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產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)
IEC61967-6
EC61967-6磁場(chǎng)探頭法是通過(guò)測(cè)試PCB板導(dǎo)線上的電流來(lái)評(píng)定集成電路的電磁發(fā)射所組成的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)。IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)是芯片引腳通過(guò)PCB板上的導(dǎo)線與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個(gè)靠近的磁場(chǎng)探頭獲取，由電磁感應(yīng)定律，探頭輸出端的電壓正比于導(dǎo)線上的射頻電流。
IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)
TEM小室法
依據(jù)IEC 61967-2的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-TEM小室法其實(shí)就是一個(gè)變型的同軸線，由一塊扁平的芯板作為內(nèi)導(dǎo)體，外導(dǎo)體為方形，兩端呈錐形向通用的同軸器件過(guò)渡，一頭連接同軸線到測(cè)試接收機(jī)，另一頭連接匹配負(fù)載。IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)中的小室的外導(dǎo)體頂端有一個(gè)方形開(kāi)口用于安裝測(cè)試電路板。
IC測(cè)試板
HS61967-1
依據(jù)IEC 61967-1 IC測(cè)試板，由接地平面、IC適配器、連接板等組成。 集成電路電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132以及IEC 62215。
IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)
1Ω/150Ω直接耦合法
依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法是根據(jù)集成電路電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，目前出版的有集成電路電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC61967和集成電路電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC62132 。依據(jù)IEC 61967-4的IC電磁發(fā)射測(cè)試系統(tǒng)-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測(cè)試。
IC脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng)
HS62215
IC脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng)是根據(jù)集成電路電磁兼容的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)，IC脈沖群抗擾度測(cè)試系統(tǒng)主要有電磁發(fā)射測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成電路電磁發(fā)射測(cè)試）、電磁抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62132（用于頻率為150kHz到1GHz的集成電路射頻抗擾度測(cè)試）以及脈沖抗擾度標(biāo)準(zhǔn)IEC 62215。
四軸定位IC掃描儀
ICS 105 set
ICS 105型四軸定位IC掃描儀，可對(duì)集成電路和小型組件進(jìn)行高頻近場(chǎng)測(cè)量。ICS 105 set 四軸定位IC掃描儀還可以單獨(dú)訂購(gòu)的 ICR 型近場(chǎng)微探頭適用于 1.5MHz 至 6GHz 頻率范圍內(nèi)的測(cè)量，空間分辨率可達(dá)50μm。
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